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KC3120

設備簡介KC3120功率半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態(tài)參數(shù)測試，如開通時間、關斷時間、上升時間、下降時間、導通延遲時間、關斷延遲時間、開通損耗、...

KC3110

設備簡介KC3110功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在3KV和1000/2000A的條件下實現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析，漏電流測試...

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設備簡介全自動WIFI模組自動測試設備，是集自動上料，自動測試，自動出料為一體自動化設備。本設備適用于WIFI/藍牙模組，采用多通道射頻分析儀，可同時測試多個產品；采用雙產品自動取放料的機械結構動作，極大的提高...

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非標治具定制根據客戶項目需求定制開發(fā)各種不同型號的手動和氣動測試治具，如凸輪搖桿治具，快速夾治具，氣動治具，插拔治具，過爐治具和其它簡易工裝治具，各種ICT、FCT治具，治具單雙面均可測，選材做到既節(jié)約成本...

KC2902

系統(tǒng)簡介1. MASTER檢測;2.單電芯OCV內阻測試（選測）;3.模組或標準箱內電芯間絕緣測試;4.模組或標準箱內所有電芯正極對機殼絕緣測試;5.模組或標準箱內所有電芯正極對機殼耐壓測試;6.線束通斷與粘連檢測MASTER檢測（設...

KC2913

設備特點1、檢查PIN（大PIN/小PIN)有無彎曲、缺失、短PIN等不良;2、檢查螺絲有無浮高、缺失等不良;3、設備能自動掃描產品QR碼;4、作業(yè)前掃描QR并保存記錄,每月生成文件夾;5、設備治具定位精準,具備防呆措施,避免用錯...

KC2919

系統(tǒng)簡介1．循環(huán)壽命實驗、容量測試、內阻測試、正弦波放電測試（O-3KHz)電池性能測試;2．測試系統(tǒng)可支持各種動態(tài)程序，以滿足對電池各種模擬測試的需要;3. 恒電流、恒電壓、恒定功率、正弦波放電（頻率可設置)、電流...

KC3106

IGCT（IntergratedGateCommutatedThyristors）是在晶閘管技術的基礎上結合IGBT和GTO等技術開發(fā)的新型器件，適用于高壓大容量變頻系統(tǒng)中，是一種用于巨型電力電子成套裝置中的新型電力半導體器件。

KC3104

設備簡介1．產品位置糾偏抓取，自動識別正反;2.自動測試，良品/不良品分類;3.換產只需更換對應的工裝;4．儀器功能可拓展;5．絕緣電阻≥1X109/Q,DC500V;生產效率UPH≥300PCS應用行業(yè)半導體、IC、PCBA、芯片等產品的自...